HP4287A 測(cè)試儀 HP4284A
東莞市啟航電子科技有限公司
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品牌: 安捷倫 | Agilent | 惠普 | HP
?1MHz~3GHz,以10kHz分檔
?阻抗測(cè)量范圍寬,從200mΩ到3kΩ
?在低試信號(hào)電平上具有優(yōu)良的測(cè)量重復(fù)性
?基本精度為1%
?高速測(cè)量:10ms
安捷倫 4287A射頻LCR測(cè)試儀在1 MHz~3 GHz頻率范圍可以提供**、可靠和快速測(cè)量,以改進(jìn)生產(chǎn)線上對(duì)電子元件進(jìn)行測(cè)試的質(zhì)量和生產(chǎn)率。與反射測(cè)量技術(shù)不同,采用直流電壓測(cè)量技術(shù)能在大的阻抗范圍進(jìn)行**測(cè)量。
生產(chǎn)率高、質(zhì)量可靠
安捷倫 4287A 適于在射頻范圍對(duì)電子元器件進(jìn)行測(cè)試。4287A的測(cè)量速度非???。此外,在小測(cè)試電流(100mA)處優(yōu)良的測(cè)試重復(fù)性還可以顯著提高生產(chǎn)率,因?yàn)樗璧娜∑骄^(guò)程非常短。
系統(tǒng)組建簡(jiǎn)單
測(cè)試頭電纜(1m或利用延伸電纜時(shí)為2m)很容易接到(元件固定裝置的)被測(cè)件接點(diǎn)附近,而不會(huì)使誤差有任何增大。內(nèi)置比較器功能、高速GPIB接口和處理器接口可用來(lái)簡(jiǎn)化與元件固定裝置和PC機(jī)的組合。增強(qiáng)的比較器功能可以使復(fù)雜的倉(cāng)室適用于多頻或陣列芯片測(cè)試。
便于使用